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[BOOKデータベースより]
結晶学の基礎知識として“晶系”、“点群(回転群)”および“空間群”を学び、その知識を使い、結晶中の原子やイオンによるX線や中性子線の散乱能を考慮して粉末回折結果を解析。
第1章 直接観察法と間接法による結晶解析(透過型電子顕微法(Transmission Electron Microscopy);電界イオン顕微法(Field Ion Microscopy);走査トンネル顕微法(Scanning Tunneling Microscopy))
[日販商品データベースより]第2章 結晶学入門(結晶の次元性と分類;結晶系(晶系);結晶方位と面指数 ほか)
第3章 回折現象(原子による散乱;トムソン散乱;原子散乱因子 ほか)
まず結晶学の基礎知識として“晶系”“点群(回転群)”“空間群”を学び、その知識を使って“粉末試料の結晶構造解析”の実施へと導く。“Rietved 法”などの自動構造解析法や“JCPDS”データベースの紹介など実用的な研究の指針となる書。