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集積回路プロセス技術シリーズ
産業図書 河東田隆
点
1 半導体デバイスプロセスと評価2 半導体結晶の不完全性と評価3 評価の目的と評価技術の選択4 評価のための基礎技術5 顕微鏡・電子線およびX線用いた構造評価技術6 電気的評価技術7 光学的評価技術8 機器分析
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1位
又吉直樹
価格:1,320円(本体1,200円+税)
【2015年03月発売】
一覧を見る
[BOOKデータベースより]
1 半導体デバイスプロセスと評価
2 半導体結晶の不完全性と評価
3 評価の目的と評価技術の選択
4 評価のための基礎技術
5 顕微鏡・電子線およびX線用いた構造評価技術
6 電気的評価技術
7 光学的評価技術
8 機器分析