- 走査電子顕微鏡 第2版
-
- 価格
- 4,180円(本体3,800円+税)
- 発行年月
- 2025年12月
- 判型
- A5
- ISBN
- 9784621312278
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[日販商品データベースより]
電子線で試料表面を走査する走査電子顕微鏡(SEM)は,試料表面形状だけではなく,試料の元素組成や結晶方位,三次元形状など,さまざまな情報を得る手法として発展を遂げ,多くの研究・産業分野で広く用いられている.
本書は,このようにSEMの応用が広がっている状況を踏まえ初版を大幅に改訂.SEMの基礎的・理論的な説明から,分野に応じた試料の準備・前処理法や観察手法を実際の観察事例とともに解説した.さらに,データサイエンス・機械学習の応用や三次元像の構築,自動化なども,最新の実例とともに紹介している.
SEM の初心者から,応用を検討している実務者・研究者まで必携の一冊.