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価格:7,150円(本体6,500円+税)
【2011年09月発売】
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価格:7,150円(本体6,500円+税)
【2011年09月発売】
[BOOKデータベースより]
第1章 商品開発ステップ毎の製品品質の作り込み(トータル品質作りの実現手順;仕様 ほか)
[日販商品データベースより]第2章 効果的な品質評価試験方法(様々な評価方法;部品情報の把握 ほか)
第3章 深刻な誤動作や故障の発生原因と対策(熱対策;電子回路ノイズと対策 ほか)
第4章 品質評価の相談と障害対策事例(エレベーター制御基板のEOL対応;屋外設置製品の提案と耐久性評価 ほか)
付録(第2章の補項目)(SiC MOSFETのAC‐BTI試験)
信頼性評価・解析は、部品調達、開発・設計、製品保証の各開発段階でそれぞれ行われる製品の品質を保障する重要な技術。最近では、自動運転などの自動制御や、IoTなどの高度な情報分析にかかわる技術の重要性はさらに高まっている。にもかかわらず、信頼性試験を怠ったり、間違った信頼性評価を行うことで、それが故障やリコールにつながる事件が目に付く。本書では、電子機器・部品における様々な評価・解析について、経験の少ない技術者、担当者でも最適な評価を得られるように導く入門書の第4弾。Part4では、故障のメカニズムを中心とした信頼性評価に加え、電子機器や部品において最も信頼性や故障に関わるノイズ・熱対策技術については基礎から丁寧に解説。さらに今注目のパワーデバイス(AC-BTI試験)などの情報も付録で紹介。基礎から最新の対策まで幅広いニーズに応える内容となっている。