- 土壌環境中の有害元素の挙動
-
放射光源X線吸収分光法による分子スケールスペシエーション
博友社
日本土壌肥料学会
- 価格
- 3,080円(本体2,800円+税)
- 発行年月
- 2012年11月
- 判型
- B6
- ISBN
- 9784826802215

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[BOOKデータベースより]
1 土壌元素の分析ツールとしてのシンクロトロン放射光源X線分光法―特徴・測定方法、将来展望
2 水田土壌の酸化還元過程におけるヒ素と鉄の動態をXAFS法で探る
3 XANESとHPLC‐ICP‐MSを用いた水‐土壌系でのヨウ素の挙動解析
4 XAFS法を駆使した土壌中の有害元素の挙動解明
5 射撃場汚染土壌に含まれる鉛の不溶化とXAFSによる化学状態分析