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ビギナーズブックス 42
工業調査会 福田哲生
エンジニアがあらたに生じる問題に切り込むためには、「なぜそうなるのか」までを含め、現象をできるだけ単純なモデルで理解しておく必要がある。本書では、模式図を豊富に用いて、シリコン結晶やウェーハに関する一般的な基礎をできるだけわかりやすく記述した。
第1章 シリコンとデバイスの概論(シリコン結晶およびウェーハ概論;デバイス概論)第2章 ウェーハの結晶欠陥とデバイス(結晶欠陥とリーク電流;結晶欠陥の形成 ほか)第3章 ウェーハの機械的性質とプロセス(転位、不純物と機械的性質;ウェーハに生じる熱応力と強度 ほか)第4章 ウェーハのトポグラフィとプロセス、デバイス(ナノトポグラフィ;平坦度 ほか)第5章 今後のウェーハ動向((110)ウェーハ;次世代大口径ウェーハ ほか)
エンジニアが新たに生じる問題に切り込むためには、現象をできるだけ単純なモデルで理解しておく必要がある。本書では、模式図を豊富に用いて、シリコン結晶やウェーハに関する一般的な基礎をわかりやすく記述した。
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[BOOKデータベースより]
エンジニアがあらたに生じる問題に切り込むためには、「なぜそうなるのか」までを含め、現象をできるだけ単純なモデルで理解しておく必要がある。本書では、模式図を豊富に用いて、シリコン結晶やウェーハに関する一般的な基礎をできるだけわかりやすく記述した。
第1章 シリコンとデバイスの概論(シリコン結晶およびウェーハ概論;デバイス概論)
[日販商品データベースより]第2章 ウェーハの結晶欠陥とデバイス(結晶欠陥とリーク電流;結晶欠陥の形成 ほか)
第3章 ウェーハの機械的性質とプロセス(転位、不純物と機械的性質;ウェーハに生じる熱応力と強度 ほか)
第4章 ウェーハのトポグラフィとプロセス、デバイス(ナノトポグラフィ;平坦度 ほか)
第5章 今後のウェーハ動向((110)ウェーハ;次世代大口径ウェーハ ほか)
エンジニアが新たに生じる問題に切り込むためには、現象をできるだけ単純なモデルで理解しておく必要がある。本書では、模式図を豊富に用いて、シリコン結晶やウェーハに関する一般的な基礎をわかりやすく記述した。