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超LSIプロセスのリード役 K books series 79
工業調査会 布施玄秀 平尾孝
本書は、イオン注入技術の基礎とデバイス応用、装置について読み易いように項目ごとに解説している。
イオン注入の基礎(1つのイオンが引き起こす数百個〜数千個の衝突;欠陥の行き着く先はアモルファス;重いイオンの注入では、すぐに非晶質化;非晶質化の促進、冷却注入 ほか)デバイス応用(LSIの基本はpn接合;注入量と抵抗値は逆相関;リーク電流に及ぼす欠陥;高温で熱処理すれば下がるリーク電流 ほか)イオン注入装置(最初から変わらない基本構造;加速管で減速することも;注入機の中は高真空;3種類ある装置 ほか)
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又吉直樹
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[BOOKデータベースより]
本書は、イオン注入技術の基礎とデバイス応用、装置について読み易いように項目ごとに解説している。
イオン注入の基礎(1つのイオンが引き起こす数百個〜数千個の衝突;欠陥の行き着く先はアモルファス;重いイオンの注入では、すぐに非晶質化;非晶質化の促進、冷却注入 ほか)
デバイス応用(LSIの基本はpn接合;注入量と抵抗値は逆相関;リーク電流に及ぼす欠陥;高温で熱処理すれば下がるリーク電流 ほか)
イオン注入装置(最初から変わらない基本構造;加速管で減速することも;注入機の中は高真空;3種類ある装置 ほか)