Ｂｉｌｉｎｇｕａｌ ｅｄｉｔｉｏｎ 精密計測学 Ｐｒｅｃｉｓｉｏｎ Ｍｅｔｒｏｌｏｇｙ

朝倉書店
高偉　清水裕樹　

• 価格: 3,190円（本体2,900円＋税）
• 発行年月: 2024年04月
• 判型: Ａ５
• ISBN: 9784254201789

内容情報

[BOOKデータベースより]

１　精密計測の基準
２　長さスケール
３　角度スケール
４　時間スケール
５　幾何形状と表面性状の計測
６　光干渉計
７　マシンビジョン
８　空間位置計測
９　光学顕微鏡
１０　走査プローブ顕微鏡
１１　誤差要因と不確かさ
１２　自律校正法
１３　機械学習と精密計測
１４　超短パルスレーザと光周波数コム

[日販商品データベースより]

・ページの上半分に日本語，下半分に英語で同内容を併記した精密計測学の教科書
・英語で講義を行う際の学習サポートにも，また日本語以外を母語とする留学生の参照用にも
・精密計測の原理・概要から，誤差分離法・機械学習の応用・光周波数コムなどを解説．

【主な目次】
Chapter1　精密計測の基準　Standards of Precision Metrology

Chapter2　長さスケール　Length Scale

Chapter3　角度スケール　Angle Scale

Chapter4　時間スケール　Time Scale

Chapter5　幾何形状と表面性状の計測　Measurement of Geometrical Form and Surface Texture

Chapter6　光干渉計　Interferometry

Chapter7　マシンビジョン　Machine vision

Chapter8　空間位置計測　Measurement of Volumetric Position

Chapter9　光学顕微鏡　Optical Microscopy

Chapter10　走査プローブ顕微鏡　Scanning Probe Microscopy

Chapter11　誤差要因と不確かさ　Error Sources and Measurement Uncertainty

Chapter12　自律校正法　Self-Calibration Methods

Chapter13　機械学習と精密計測　Relationship between Machine Learning and Precision Measurement

Chapter14　超短パルスレーザと光周波数コム　Ultrashort Pulse Laser and Optical Frequency Comb

参考文献　References
演習問題解答　Answers to Selected Problems
和文索引　Index in Japanese
英文索引　Index in English