ＬＳＩ故障解析技術 新版

日科技連出版社
二川清　

• 価格: 3,740円（本体3,400円＋税）
• 発行年月: 2011年09月
• 判型: Ａ５
• ISBN: 9784817194145

内容情報

[BOOKデータベースより]

ＬＳＩの故障解析を実施する際や、故障解析技術を研究開発する際に必要な知識・経験は多岐にわたるが、本書の中心は故障解析技術そのものである。本書では、最新の技術を解説するとともに、広く用されている従来からの技術も紹介する。

第１章　ＬＳＩの故障とその特徴（故障解析に関連するＬＳＩのトレンド；ＬＳＩの故障の特徴　ほか）
第２章　ＬＳＩ故障解析技術概論（基本の「き」；故障解析の手順　ほか）
第３章　故障解析事例（ＤＲＡＭのＩＲ‐ＯＢＩＲＣＨなどによる解析事例；ロジックＬＳＩ（システムＬＳＩ）の解析事例　ほか）
第４章　新しい故障解析関連手法の開発動向（光を利用した故障解析技術発展の流れと最近の動向；ＯＢＩＲＣＨ関連手法発展の流れと最近の動向　ほか）