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[BOOKデータベースより]
第1部 X線・中性子線(X線吸収微細構造(XAFS);顕微XRF・顕微XAFS ほか)
第2部 電子線・プローブ(走査電子顕微鏡(SEM);集束イオンビーム‐走査型電子顕微鏡(FIB‐SEM) ほか)
第3部 そのほかの分析手法(共焦点レーザースキャン顕微鏡(LSCM);動的光散乱法による粒子径測定 ほか)
第4部 トピックス(ナノ粒子触媒評価;合金ナノ粒子評価 ほか)
複数の手法を組み合わせて、材料解析を行うことで、材料の本当の姿がみえてくる。「ナノ材料」の解析全般を網羅し、実例を交えながら、要点を解説した。「よりよいデータを」と願う研究者・技術者の羅針盤となる必携の指南書!
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解析全般を網羅し、実例を交えながら、要点を解説した。「よりよいデータを」と願う研究者・技術者の羅針盤となる必携の指南書!