ＬＳＩ故障解析技術のすべて

開発促進・歩留向上・信頼性向上のキーテクノロジー

工業調査会
二川清　

• 価格: 2,640円（本体2,400円＋税）
• 発行年月: 2007年11月
• 判型: Ａ５
• ISBN: 9784769312697

内容情報

[BOOKデータベースより]

第１章　ＬＳＩの故障とその特徴（故障解析に関連するＬＳＩのトレンド；ＬＳＩの故障の特徴；ＬＳＩの故障モードと故障メカニズム）
第２章　ＬＳＩ故障解析技術概論（ＬＳＩ故障解析の基本の「き」；故障解析の手順；故障解析技術の分類；パッケージ部の故障解析；チップ部の故障解析）
第３章　故障解析事例（ＤＲＡＭのＩＲ‐ＯＢＩＲＣＨなどによる解析事例；ロジックＬＳＩの解析事例；パワーＭＯＳ−ＦＥＴの解析事例；ＴｉＳｉ配線の解析事例；銅配線の解析事例；パッケージ中ボイドの解析事例）
第４章　新しい故障解析関連技術の開発動向（光を利用した故障解析技術発展の流れと最近の動向；ＯＢＩＲＣＨ関連技術発展の流れと最近の動向；そのほかの故障解析技術関連の開発動向；ＬＳＩＴＳ（ＬＳＩテスティングシンポジウム），ＩＳＴＦＡ（故障解析国際会議）にみる動向）