ＸＡＦＳの基礎と応用

講談社
日本ＸＡＦＳ研究会　

• 価格: 5,060円（本体4,600円＋税）
• 発行年月: 2017年07月
• 判型: Ａ５
• ISBN: 9784061532953

内容情報

[BOOKデータベースより]

第１章　序論（物質と電磁波の相互作用；Ｘ線吸収分光の歴史）
第２章　ＸＡＦＳの理論（一回散乱ＥＸＡＦＳ；多重散乱理論　ほか）
第３章　ＸＡＦＳの解析（ＥＸＡＦＳの解析；ＲＥＸを用いたＸＡＦＳ解析　ほか）
第４章　ＸＡＦＳ実験（放射光光源；ビームライン光学系　ほか）
第５章　関連手法（軟Ｘ線磁気円二色性、線二色性；硬Ｘ線磁気円二色性　ほか）

[日販商品データベースより]

XAFSのバイブル、待望の改訂！

本書は2002年刊行『X線吸収分光法─XAFSとその応用』（太田俊明 編・アイピーシー刊）の全面改訂版です。旧版の良い点を受け継ぎ、新しい測定法や解析法を追加しました。

本書では、まず「第1章　序論」でXAFS研究、およびその関連研究分野がどのように発展してきたかを概説しました。
「第2章　XAFSの理論」では、EXAFSの理論について詳述しただけでなく、最近ますますその需要が増してきたXANESの理論を新たに付け加えました。
「第3章　XAFSの解析」では、一般的な解析法の説明に加え、解析法における諸問題をFAQの形で説明し、さらにXAFS解析に便利なソフトについての解説を加えました。また、実験家の立場からXANESの具体的な解釈についても新たに付け加えました。
「第4章　XAFS実験」では、放射光源、ビームライン、測定手法といった基盤技術に加えて、時間分解手法、空間分解手法、さらに、さまざまな分野への応用展開技術が最先端をいく研究者によって解説されています。旧版から最も大きく様変わりした章です。
「第5章　関連手法」では、XAFSに関連するさまざまな手法が紹介されています。XAFSはＸ線の吸収に起因する現象ですが、その中にはＸ線の散乱や干渉効果が含まれており、それは形を変えて非弾性散乱やDAFS（diffraction anomalous fine structure）などの現象としても現れます。

XAFSの理論・解析法はもちろん、放射光を利用した測定系や時間・空間分解測定、全反射測定、高圧下での測定、その場測定、界面や生体試料を対象とした測定まで、XAFSのすべてがわかる研究者必携の１冊です。

※以下の付録を講談社サイエンティフィクのホームページ（http://www.kspub.co.jp/book/detail/1532953.html）で公開しています。
付録C　吸収強度見積もりのためのVictoreen係数の表
付録D　REX2000：FEFF計算結果でカーブフィッティングする方法