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基礎と応用
養賢堂
田中啓介（１９４３ー） 鈴木賢治（材料力学） 秋庭義明
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[BOOKデータベースより]
第１部 残留応力の基礎（応力とひずみ；残留応力の発生・評価・制御；残留応力と強度評価）
第２部 Ｘ線応力測定の基礎（結晶材料；Ｘ線と回折；多結晶のＸ線応力測定；Ｘ線応力測定の実際）
第３部 Ｘ線応力測定法の応用（シンクロトロン放射光による応力測定；中性子回折による応力測定；多相材料・複合材料の応力評価；表面改質・コーティングの応力評価；薄膜の応力評価；接合・溶接材の残留応力評価）
第４部 結晶弾性のマイクロメカニックス（単結晶の弾性変形；単結晶のＸ線応力測定；多結晶・多相材料の回析弾性定数；繊維配向を有する立法晶多結晶薄膜のＸ線応力測定）
付録