走査プローブ顕微鏡／分光法 第２版
表面分析技術選書
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内容情報（日販商品データベースより）
走査プローブ顕微鏡（SPM）は、nmレベルに細く尖らせた探針（プローブ）を試料表面に沿って走査させ、試料表面からしみ出す物理量を計測することで、その形状や性質を観察する手法である。その空間分解能の高さから種々の材料科学研究に活用されてきた。近年のSPM関連技術の進展は目覚ましく、局所的な電気物性や磁性、力学情報に加え、Raman散乱や発光特性の取得、フェムト秒領域のダイナミクス計測、三次元像の可視化なども可能となっている。
本書は、こうした最新のSPM技術の全体像を、豊富な具体例を交えつつ体系的に整理。 “何が観えるのか”“それをどう理解し活用するのか”といった素朴で根本的な疑問にも答えた。本分野に新たに携わろうとする学生や技術者はもちろん、第一線でSPMを活用する研究者にとっても有用な一冊。