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[BOOKデータベースより]
1 ICP‐MSの原理と装置構成
2 干渉の種類と補正法
3 微量分析のためのコンタミネーション防止
4 ICP‐MSの複合分析装置
5 同位体希釈質量分析法
6 ICP‐MSの実試料への応用
ICP−MSの原理と装置構成、分析の干渉の原因と補正方法、超高感度であるがゆえに重要な分析操作時の汚染防止、高精度分析を実現するための同位体希釈法を詳しく、かつわかりやすく解説。
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